X射線熒光鍍層測厚儀/rohs光譜儀用于電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業Ux-720 精密鍍層分析儀X射線熒光光譜儀專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達克羅涂覆層分析的普及機型，三重射線防護系統；人性化操作界面；華唯VisualFp基本參數法分析軟件，可盲測（即：無需標準樣品標定），即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析，降低客戶購買標準樣品（尤其是特殊樣品）成本。精心設計的開放式工作曲線功能，特別適用于工藝復雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。

X射線熒光鍍層測厚儀/rohs光譜儀主要技術參數

1.分析元素范圍：S-U中的元素

2、檢測成分范圍：1ppm-99.99%

3、低檢測厚度：0.001um

4、檢測厚度上限：30 - 50um（視材料而定）

5、檢測鍍層層數：1-5層（視材料而定）

6、測量時間 ：30-150s ( 系統自動調整 )

7、分辨率：145±5eV

8、準直器：Φ0.5mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自動切換

9、濾光片：5種濾光片自動切換

10、CCD觀察：260萬像素高清CCD

11、樣品微動范圍：XY15mm

12、儀器尺寸：680(W)x400(D)x390(H)mm

13、樣品腔尺寸：300*360*100mm；

14、輸入電源：AC220V～240V，50/60Hz

15、額定功率：350W

16、重量：約45Kg

17、工作環境溫度：溫度15—30℃

18、工作環境相對濕度：≤85%（不結露）

19、穩定性:多次測量重復性誤差小于0.1%

標準配件：

樣品固定支架1支

窗口支撐薄膜：100張

保險管：3支

計算機主機：品牌+雙核

顯示屏：19寸液晶

打印機：噴墨打印機

可選配件：

可升級為SDD探測器