X射線熒光鍍層測厚儀/rohs光譜儀用于電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業Ux-720 精密鍍層分析儀X射線熒光光譜儀專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達克羅涂覆層分析的普及機型,三重射線防護系統;人性化操作界面;華唯VisualFp基本參數法分析軟件,可盲測(即:無需標準樣品標定),即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析,降低客戶購買標準樣品(尤其是特殊樣品)成本。精心設計的開放式工作曲線功能,特別適用于工藝復雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。
X射線熒光鍍層測厚儀/rohs光譜儀主要技術參數
1.分析元素范圍:S-U中的元素
2、檢測成分范圍:1ppm-99.99%
3、低檢測厚度:0.001um
4、檢測厚度上限:30 - 50um(視材料而定)
5、檢測鍍層層數:1-5層(視材料而定)
6、測量時間 :30-150s ( 系統自動調整 )
7、分辨率:145±5eV
8、準直器:Φ0.5mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自動切換
9、濾光片:5種濾光片自動切換
10、CCD觀察:260萬像素高清CCD
11、樣品微動范圍:XY15mm
12、儀器尺寸:680(W)x400(D)x390(H)mm
13、樣品腔尺寸:300*360*100mm;
14、輸入電源:AC220V~240V,50/60Hz
15、額定功率:350W
16、重量:約45Kg
17、工作環境溫度:溫度15—30℃
18、工作環境相對濕度:≤85%(不結露)
19、穩定性:多次測量重復性誤差小于0.1%
標準配件:
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜:100張
保險管:3支
計算機主機:品牌+雙核
顯示屏:19寸液晶
打印機:噴墨打印機
可選配件:
可升級為SDD探測器
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